ZA-218T銳科智能保險(xiǎn)絲測(cè)試儀電流150A可定制使用方法

更新時(shí)間：2024-05-02 10:57:05 瀏覽數(shù)：125
所屬行業(yè)：儀表儀器>實(shí)驗(yàn)儀器裝置>其他實(shí)驗(yàn)儀器裝置
發(fā)貨地址：青島
產(chǎn)品型號(hào)：ZA
供應(yīng)數(shù)量：99臺(tái)
包裝說(shuō)明：鋁合金箱
單價(jià)：200.00元/臺(tái)

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產(chǎn)品詳情

HNDL100絲測(cè)試儀熔斷絲測(cè)試儀（電流值可定制）
ZA-218T銳科智能絲測(cè)試儀電流150A可定制使用方法智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器，用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè)，
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置，采用ARM控制器進(jìn)行控制采集，試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便，智能可靠等特點(diǎn)。

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< align="center" style="text-align:center;"> 項(xiàng)目 < align="center" style="text-align:center;"> 要求及指標(biāo)

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<> 輸入電壓范圍 <> 220V±10﹪，50Hz/60Hz

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<> 測(cè)試電流范圍 <> 0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs

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<> 測(cè)試開(kāi)路電壓精度 <> 1﹪RD±0.2﹪fs

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<> 試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/san> <> 熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2

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< style="text-indent:21.0000t;"> &nbs; <> 測(cè)試時(shí)間范圍 < style="text-indent:21.0000t;"> &nbs; <> M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 <> M2 模式時(shí)間范圍：10mS--100小時(shí)

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<> 耐久性時(shí)間設(shè)置 <> 0~99H59M

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<> 次數(shù)設(shè)置 <> 0~9999次

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<> 時(shí)間分辨率 <> 10ms

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<> 測(cè)試電流步 <> 50mA~1A，可設(shè)置

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<> 測(cè)試電流精度 <> M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’為設(shè)置數(shù)值）， <> M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’為設(shè)置數(shù)值）

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<> 測(cè)試時(shí)間精度 <> M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值）， <> M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值）

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<> 顯示方式 <> 7 寸觸摸屏顯示

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<> 控制方式 <> FPGA+ARM 控制

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<> 其他 <> 支持外接 U 盤(pán)拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能，免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議

在大多數(shù)流量表應(yīng)用中，主Arm-M4F應(yīng)用微控制器(MCU)可能僅需要每天傳輸兩三次測(cè)量結(jié)果。主MCU能在兩次傳輸之間保持待機(jī)模式，這顯著降低了系統(tǒng)的平均電流消耗。監(jiān)控水或燃?xì)饬髁渴冀K是必須要做的工作，因此您可以部署立的16位MCU超低功率協(xié)處理器，由該協(xié)處理器在主MCU待機(jī)時(shí)實(shí)施低功率測(cè)量。Simlelink?CC1312andCC1352R/P設(shè)備平臺(tái)(見(jiàn)圖1)及其超低功率傳感器控制器使您能夠獲得低功率并管理應(yīng)用、計(jì)量和無(wú)線射頻(RF)通信，所有這些功能均由單一芯片承載。在這個(gè)過(guò)程中，常常會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題，其中區(qū)主要的就是干擾問(wèn)題，那我們又該如何解決這個(gè)問(wèn)題，下面就來(lái)介紹幾種常見(jiàn)的方法。習(xí)慣上我們把對(duì)電測(cè)系統(tǒng)或儀器的測(cè)量結(jié)果起影響作用的各種外部或內(nèi)部的無(wú)用信號(hào)稱(chēng)為干擾。干擾造成的信號(hào)，不僅對(duì)設(shè)備本身造成損壞，甚至還會(huì)使整個(gè)控制系統(tǒng)因邏輯混亂造成控制失靈，形成生產(chǎn)事故，甚至停產(chǎn)。1干擾的類(lèi)型按噪聲干擾模式不同，分為共模干擾和差模干擾。共模干擾和差模干擾是一種比較常用的分類(lèi)方法。 http://m.aiaiqi.cn

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青島中岸銳科智能技術(shù)有限公司

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二維碼

<>	< align="center" style="text-align:center;"> 項(xiàng)目	< align="center" style="text-align:center;"> 要求及指標(biāo)
<>	<> 輸入電壓范圍	<> 220V±10﹪，50Hz/60Hz
<>	<> 測(cè)試電流范圍	<> 0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs
<>	<> 測(cè)試開(kāi)路電壓精度	<> 1﹪RD±0.2﹪fs
<>	<> 試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/san>	<> 熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2
<>	< style="text-indent:21.0000t;"> &nbs; <> 測(cè)試時(shí)間范圍 < style="text-indent:21.0000t;"> &nbs;	<> M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 <> M2 模式時(shí)間范圍：10mS--100小時(shí)
<>	<> 耐久性時(shí)間設(shè)置	<> 0~99H59M
<>	<> 次數(shù)設(shè)置	<> 0~9999次
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<>	<> 測(cè)試時(shí)間精度	<> M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值）， <> M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值）
<>	<> 顯示方式	<> 7 寸觸摸屏顯示
<>	<> 控制方式	<> FPGA+ARM 控制
<>	<> 其他	<> 支持外接 U 盤(pán)拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能，免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議