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為解決這些挑戰(zhàn)，新模塊在提供電壓和測量電流時，支持的電纜長度和連接電容都要超過傳統SMU。4201-SMU和4211-SMU是為采用長電纜、開關矩陣、通過柵極接觸卡盤及其他夾具的測試裝置門設計的。這就讓研究人員和制造測試工程師節(jié)省了大量的時間和成本，而這些時間和成本本來可以花費在故障排除和重新配置測試設置上?！耙驗橐档碗娏鱽砉?jié)省能耗，精細測試裝置所產生的高負載電容正成為一個日益嚴重的問題。在測試智能手機或平板電腦采用的大型LCD面板時，就面臨著同樣的問題。眾所周知測試LED光通量在CIE121：1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到兩種測試方法：一種是采用積分球加光度計或光譜輻射計測試的積分法，這個是總光通量的相對測量方法（CIE121：1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0）；另外一種是采用分布光度計的光度法，這個是總光通量的測量方法。
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