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后說到的頻譜分析儀通常用在射頻域，來觀察和分析被測信號的頻域特性，而我們常用其配合近場來掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對應的頻點，初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計，配合無源電壓點測芯片的時鐘輸入引腳，就可以測量到頻率，如下是各部分的電路結(jié)構(gòu)：其中：CC2是晶體的負載電容，影響到頻率、負性阻抗等電路參數(shù)RC3是無源電壓的電路參數(shù)，R3是9Mohm，C3是幾個F不等R是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，是幾十F不等如果使用頻譜分析儀，配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率，這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。帶寬決定了數(shù)字示波器對信號的基本測量能力。隨著信號頻率的增加，數(shù)字示波器對信號的準確顯示能力下降。實際測試中我們會發(fā)現(xiàn)，當被測信號的頻率與數(shù)字示波器帶寬相近時，數(shù)字示波器將無法分辨信號的高頻變化，顯示信號出現(xiàn)失真。：頻率為100MHz、電壓幅度為1V的信號用帶寬為100MHz的數(shù)字示波器測試，其顯示的電壓只有0.7V左右。為同一階躍信號用帶寬分別為4GHz、1.5GHz和300MHz的數(shù)字示波器測量所得的結(jié)果。
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